Röntgenfluoreszenz

Von hoch-flexibel bis maßgeschneidert bietet Fischer drei neue Messsysteme auf Röntgenfluoreszenz-Basis an

X-RAY XAN® 500 – die vielseitige Röntgenfluoreszenz-Technik

 

Merkmale

  • Mobiles Röntgenfluoreszenz-Gerät
  • Optimiert für Schichtdickenmessung und Analyse von Legierungen
  • 3-Punkt-Auflage für Messung aus der Hand
  • Messbox und Tablet mit der Software WinFTM

Ihre Vorteile

  • Präzise Schichtdickenmessung direkt in der Produktion (z.B. Zn, ZnNi, Ag, Au)
  • Ein Gerät – drei Einsatzgebiete: mobil, stationär und inline
  • Messen Sie sperrige Teile mit guter Wiederholgenauigkeit
  • In die Messbox eingelegt verwandelt sich das XAN 500 in ein vollwertiges Tischgerät
  • In die Anlagensteuerung integriert ermöglicht das XAN 500 die 100%ige Kontrolle


Kompakt und trotzdem leistungsstark: Der XAN 500 ist mit einem Tablet und der bewährten WinFTM-Software ausgestattet

X-RAY XDV®-µ LD
großer Messabstand – kleiner Messfleck

 

Merkmale

  • Universelles Röntgenfluoreszenz-System für die Messung sehr dünner und komplexer Schichtsysteme
  • Großer Messabstand (12 mm)
  • Sehr kleine Messflecken, dank Mikrofokusröhre und Polykapillaroptik
  • Spezielles Gehäuse und erweiterte Probeauflage

Ihre Vorteile

  • Messung auf Proben mit komplexer Geometrie, z.B. auf bestückten Leiterplatten
  • Sehr hohe Anregungsintensität verkürzt die Messzeit
  • Bequeme Handhabung von großen Proben wie Leiterplatten


Ob bestückte Leiterplatten oder Stecker: Bei kleinen Bauteilen mit komplexer Geometrie ist das XDV-µ LD die richtige Wahl

X-RAY XDV®-µ LEAD FRAME – zugeschnitten für die Elektronikindustrie

 

Merkmale

  • Automatisierte Schichtdickenmessung und Materialanalyse von Leiterbahnen, Kontakten oder Lead-Frames
  • Analyse unter Umgebungsatmosphäre oder mit Helium-Spülung
  • Polykapillaroptik für kleine Messflecken

Ihre Vorteile

  • Messung von Mehrfachschichtsystemen und NiP-Beschichtungen
  • Eine eingebaute Helium-Spülung erlaubt die Messung von sehr leichten Elementen wie Natrium
  • Auch für große Leiterplatten geeignet


Das XDV®-µ LEAD FRAME deckt einen sehr breiten Elementbereich ab – von Natrium (11) bis Uran (92)

 

Verfügbar ab der zweiten Jahreshälfte 2017

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Helmut Fischer AG
Hünenberg/Schweiz

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